Caracterització per microscòpia

L'espai de Caracterització de Microscòpia de l'IBEC va néixer com un servei pertanyent a les Instal·lacions Bàsiques, amb la missió de donar suport a la microscòpia al nostre institut, tot i que actualment també ofereix servei a usuaris externs. D'aquesta manera, no només disposem d'instruments de microscòpia òptica, per a aquells usuaris que no disposen de la infraestructura bàsica a les seves estacions de treball, sinó també d'un potent servei de microscòpia electrònica, amb tècniques i equips especialitzats, per preparar mostres biològiques, que s'han d'inspeccionar en condicions d'alta resolució i alt buit. A les nostres Instal·lacions, els investigadors de l'IBEC i també clients externs (públics i privats) poden adquirir imatges i analitzar estructures, que van des de molècules individuals a nanoescala fins a cèl·lules vives.

Blocs de contingut

Imatges

Contactes institucionals / Cap de plataformes

IO

Isabel OliveiraHead of Core Facilities
Institut de Bioenginyeria de Catalunya (IBEC)

Dades provisionals

Dra. Maria Teresa Galán Cascales | Microfab and Microscopy Characterization Facilities Coordinator |  tgalan@ibecbarcelona.eu  | +34 934 037 138 |  ORCID 

Microfab and Microscopy Characterization Facilities Coordinator

Dra. Maria Teresa Galán Cascales |  tgalan@ibecbarcelona.eu  | +34 934 037 138 |  ORCID 

MicrofabSpace and Microscopy Characterization Facilities Technician

Marina Lantarón |  microfab@ibecbarcelona.eu Marta Casas |  microfab@ibecbarcelona.eu 

Emma Oriol |  microfab@ibecbarcelona.eu 

Microscopy Characterization Facilities Technician

Martí Milozzi Nomdedeu |  microscopy@ibecbarcelona.eu 

Guillem Romero Camó |  bioimaging@ibecbarcelona.eu 

Dra. Isabel Oliveira | Coordinadora d'Instal·lacions Bàsiques |   ioliveira@ibecbarcelona.eu  | +34 934 020 184 |   ORCID 

Centres CERCA

Propietaris

Llista Centres CERCA

Equipament i Serveis

Microscopi confocal Zeiss, microscopi òptic Nikon LSM800, microscopi òptic Nikon STORM Eclipse L150, microscopi electrònic de rastreig (SEM) FEI N-STORM Eclipse Ti2-E, equip d'assecat de punts crítics Leica NovaNanoSEM 230, equip de pulverització catòdica d'or Auto Leybold CPD300, Univex 450B

Formació en tècniques, equips i processos de Microscòpia Òptica i Electrònica per a ús autònom (mode autousuari). Serveis de Microscòpia Òptica i Electrònica personalitzats, realitzats per personal científic (mode de comanda amb pressupost previ). Caracterització de mostres confocal i de fluorescència Caracterització morfològica i topogràfica mitjançant microscòpia electrònica de rastreig (SEM) Mode d'alt buit (mostres conductores) Mode de baix buit (mostres aïllants o no compatibles amb alt buit) Caracterització combinada de mostres topogràfica (SEM) i de fluorescència (confocal) Preparació de mostres SEM Servei de fixació química per a mostres biològiques Servei de deshidratació de punts crítics Servei de recobriment d'or per a la inspecció d'alta resolució de mostres aïllants Microscòpia STORM: Localització de molècules individuals i seguiment de partícules.

Categorització

Dominis RIS3CAT

Dominis RIS3CAT
CERCA GINYS Categories

GINYS-IBEC-002

Procediment d'accés i tarifes

Obert. Condicions

Qualitat institucional

Xarxes institucionals