
Caracterització per microscòpia
Blocs de contingut
Imatges




Contactes institucionals / Cap de plataformes
IO
Dades provisionals
Centres CERCA

Barcelona, Spain
2005
Institut de Bioenginyeria de Catalunya (IBEC)
Propietaris
IBEC
Equipament i Serveis
Microscopi confocal Zeiss, microscopi òptic Nikon LSM800, microscopi òptic Nikon STORM Eclipse L150, microscopi electrònic de rastreig (SEM) FEI N-STORM Eclipse Ti2-E, equip d'assecat de punts crítics Leica NovaNanoSEM 230, equip de pulverització catòdica d'or Auto Leybold CPD300, Univex 450B
Formació en tècniques, equips i processos de Microscòpia Òptica i Electrònica per a ús autònom (mode autousuari). Serveis de Microscòpia Òptica i Electrònica personalitzats, realitzats per personal científic (mode de comanda amb pressupost previ). Caracterització de mostres confocal i de fluorescència Caracterització morfològica i topogràfica mitjançant microscòpia electrònica de rastreig (SEM) Mode d'alt buit (mostres conductores) Mode de baix buit (mostres aïllants o no compatibles amb alt buit) Caracterització combinada de mostres topogràfica (SEM) i de fluorescència (confocal) Preparació de mostres SEM Servei de fixació química per a mostres biològiques Servei de deshidratació de punts crítics Servei de recobriment d'or per a la inspecció d'alta resolució de mostres aïllants Microscòpia STORM: Localització de molècules individuals i seguiment de partícules.
Categorització
Dominis RIS3CAT
Sistema Social i Sanitari
Sistema Industrial
Sistema educatiu i de generació de coneixement
EQUIPAMENT TECNOLÒGIC
Microscòpia
GINYS-IBEC-002
Procediment d'accés i tarifes
Qualitat institucional