NCL – Laboratori de Nanocaracterització

El Laboratori de Nanocaracterització ofereix serveis d'última generació per a la caracterització de nanomaterials i nanoestructures desenvolupades a l'ICFO, dins dels diversos grups, així com a la instal·lació de nanofabricació (NFL). Les instal·lacions úniques de l'NCL proporcionen múltiples tècniques de caracterització per obtenir imatges de materials optoelectrònics, estructures nanofotòniques i dispositius d'aquests en múltiples escales de longitud utilitzant fotons, electrons, forces mecàniques i raigs X com a sondes.

Blocs de contingut

Images

Electron Microscopy

The facility offers a state-of-art electron microscopy suite with currently 2 SEMs one offering Ultra-high resolution at high and low beam energies for surface sensitive samples.

X-ray diffraction Facility

NCL also has An X-ray diffraction facility for powder and thin film measurements, featuring also X-ray reflection for thin film measurements.

Spectroscopic Ellipsometry

NCL’s spectroscopic ellipsometry covering a very broad spectral range from 300 nm – 20 μm, provides unprecedented information on the optical properties of materials and photonic structures at such a broad range.

Scanning Probe Microscopy

NCL provides several state-of-art scanning probe microscopy systems offering several techniques including AFM, (photo-)conductive AFM, Kelvin-probe AFM, scanning-CAP AFM etc.

Contactes institucionals / Cap de plataformes

PL

Pablo Loza-Alvarez
Institut de Ciències Fotòniques (ICFO)

Dades provisionals

Prof. Dr. Gerasimos Konstantatos | NFL Chair |  gerasimos.konstantatos@icfo.eu  | +34 935534182 |  ORCID 

Operations Manager

Dr. Johann Osmond |  johann.osmond@icfo.eu  | +34 935534030 |  ORCID 

NCL Chair

Prof. Dr. Gerasimos Konstantatos |  gerasimos.konstantatos@icfo.eu  | +34 935534182 |  ORCID 

Dr. Pablo Loza-Alvarez | Coordinador d'instal·lacions |   pablo.loza@icfo.eu  | 93 553 4068 - 93 554 2259 |   ORCID 

Centres CERCA

Castelldefels, Spain

2022

Institut de Ciències Fotòniques (ICFO)

Propietaris

Llista Centres CERCA

Adreces

https://www.icfo.eu/research/facilities/ncl/

Equipament i Serveis

Tècniques disponibles Microscòpia electrònica: La instal·lació ofereix un conjunt de microscòpia electrònica d'última generació amb actualment 2 SEM, un dels quals ofereix una resolució ultraalta a energies de feix altes i baixes per a mostres sensibles a la superfície. Instal·lació de difracció de raigs X: NCL també disposa d'una instal·lació de difracció de raigs X per a mesures de pols i capes primes, que també inclou reflexió de raigs X per a mesures de capes primes. Ellipsometria espectroscòpica: L'ellipsometria espectroscòpica de NCL, que cobreix un rang espectral molt ampli de 300 nm a 20 μm, proporciona informació sense precedents sobre les propietats òptiques dels materials i les estructures fotòniques en un rang tan ampli. Microscòpia de sonda d'escombratge: NCL proporciona diversos sistemes de microscòpia de sonda d'escombratge d'última generació que ofereixen diverses tècniques, com ara AFM, AFM (foto)conductor, AFM amb sonda Kelvin, AFM amb CAP d'escombratge, etc.

Categorització

Dominis RIS3CAT

Dominis RIS3CAT

CERCA GINYS Categories

GINYS-ICFO-005

Procediment d'accés i tarifes

Obert. Per sol·licitar accés i informació detallada sobre els equips disponibles i les tarifes, contacteu amb: gerasimos.konstantatos@icfo.eu; johann.osmond@icfo.eu

https://www.icfo.eu/wp-content/uploads/2023/01/NCL-fees.pdf

Política de privacitat
Avís legal