La instal·lació de fotoemissió de l'ICN2 allotja un sistema XPS i UPS d'última generació que permet la caracterització superficial, química i electrònica d'una àmplia gamma de materials. La instal·lació ofereix serveis tant a clients interns com externs de l'ICN2. L'XPS i els UPS són tècniques sensibles a la superfície perquè els electrons només viatgen uns pocs nanòmetres en el sòlid abans de perdre energia per interacció inelàstica, és a dir, que els electrons analitzats provenen de la superfície superior del material. És per això que, en l'espectroscòpia de fotoemissió, la mostra es col·loca en un ultra alt buit (UHV) per protegir la superfície de la contaminació i permetre que els electrons emesos pels sòlids arribin a l'analitzador. L'XPS , a causa de la major energia de la font de raigs X, dóna accés al nivell central, permetent la determinació de l'estructura química dels materials, ja que els nivells centrals tenen un petit desplaçament químic depenent de l'entorn químic de l'àtom que s'ionitza. L'XPS també permet quantificar els elements presents al material. El SAI , a causa de la menor energia de la llum UV, dóna accés als electrons de les bandes de valència i permet, amb un SAI de resolució angular (SAI ARUPS), observar la distribució d'electrons a l'espai recíproc dels sòlids.

Guillaume Sauthier | Research technician at the Photoemission Spectroscopy Facility |  guillaume.sauthier@icn2.cat  | 937 372 638 |  ORCID  

Guillaume Sauthier | Research technician at the Photoemission Spectroscopy Facility |  guillaume.sauthier@icn2.cat  | 937 372 638 |  ORCID  

Gustavo Ceballos | Cap de la Divisió de Suport a la Recerca - Unitat d'Instrumentació |   gustavo.ceballos@icn2.cat  |   ORCID