difracció de raigs X

La Unitat de Difracció de Raigs X recopila totes les tècniques que es basen en la difracció de raigs X en sòlids cristal·lins. Dóna suport a la caracterització de compostos químics que estan disponibles en estat cristal·lí. Hi ha dues tècniques principals disponibles: la difracció de raigs X en pols (PXRD) i la difracció de raigs X en monocristall (SCXRD). La tècnica PXRD s'utilitza bàsicament com a mètode de cribratge primari i ofereix una empremta digital de cada forma cristal·lina diferent analitzada. Aquest mètode proporciona un servei bàsic a tots els usuaris de l'ICIQ amb un sistema que permet una preparació de mostres fàcil i un temps de mesurament curt per a un gran nombre de mostres. La tècnica SCXRD ofereix una estructura tridimensional a escala atòmica d'un compost cristal·lí seleccionat. Aquest mètode està altament especialitzat amb un sistema combinat de components d'alt rendiment. L'objectiu en aquest cas és donar suport directe als grups de recerca resolent problemes a tots els nivells de dificultat. Aquest suport inclou la cristal·lització de mostres problemàtiques, la preparació de cristalls de baixa qualitat i el refinament de conjunts de dades preocupants.

 https://iciq.org/wp-content/uploads/2025/08/RSA-01-2025_ENG.pdf 

Blocs de contingut

Imatges

Powder X-ray diffraction system

D8 Advance Series 2Theta/Theta powder diffraction system using CuKa-radiation in transmission geometry. The system is equipped with a VÅNTEC-1 single photon counting PSD, a Germanium monochromator, a ninety positions auto changer sample stage, fixed divergence slits and a radial soller. Programs available: Data collection with DIFFRAC plus XRD Commander V.2.4.1 and evaluation with EVA V.12.0. and TOPAS V.6

DUO Bruker Single Crystal

Bruker diffractometer Apex DUO equipped with a Kappa 4-axis goniometer, an APPEX 2 4K CCD area detector, a Microfocus Source E025 IuS using Mo Ka radiation, a Microfocus Source E025 IuS using Cu Ka radiation, Quazar MX multilayer Optics as monochromator and an Oxford Cryosystems low temperature device Cryostream 700 plus (T = 90-500 K). Programs available: – Data collection with APEX II version v2013.4-1.[1]– Data reduction with Bruker SAINT version V8.37A.[2] – Absorption correction with SADABS v2016-2[3] and TWINABS v2012/1[4]. – Powder X-ray Diffraction and variable temperature Powder X-ray Diffraction measurements with the utility in Pilot: XRD2Eval (Bruker AXS). -Software for data treatement: – SHELXT; V2014/4[7] – SIR2014 v17.10[8] – SHELXle[9] – SHELXL-2018/3[10] – Crystals[11] – Wingx Version 2014.1[12] – Platon[13] – MoProGui v18.05[14] [1] Bruker-AXS, v2013.4-1 ed., Madison, Wisconsin, USA, 2013. [2] Bruker-AXS, v8.37A ed., Madison, Wisconsin, USA, 2013. [3] L. Krause, R. Herbst-Irmer, G. M. Sheldrick, D. Stalke, J. Appl. Cryst. 2015, 48, 3-10. [4] G. M. Sheldrick, 2012. [7] G. M. Sheldrick, Acta Crystallographica a-Foundation and Advances 2015, 71, 3-8. [8] M. C. Burla, R. Caliandro, B. Carrozzini, G. L. Cascarano, C. Cuocci, C. Giacovazzo, M. Mallamo, A. Mazzone, G. Polidori, J. Appl. Cryst. 2015, 48, 306-309. [9] C. B. Hubschle, G. M. Sheldrick, B. Dittrich, J. Appl. Cryst. 2011, 44, 1281-1284. [10] G. M. Sheldrick, Acta Crystallographica Section C-Structural Chemistry 2015, 71, 3-8. [11] A. L. Thompson, D. J. Watkin, J. Appl. Cryst. 2011, 44, 1017-1022. [12] L. Farrugia, J. Appl. Cryst. 2012, 45, 849-854. [13] A. Spek, Acta Crystallographica Section D 2009, 65, 148-155; A. L. Spek, Acta Crystallographica Section C-Structural Chemistry 2015, 71, 9-18. [14] C. Jelsch, B. Guillot, A. Lagoutte, C. Lecomte, J. Appl. Cryst. 2005, 38, 38-54.

IR LASER

This IR LASER system allows the “in situ” crystallisation of the samples under inert conditions.

Empyrean Power Diffractometer

The versatile Malvern Panalytical Empyrean Diffractometer is a state of the art equipment that allows a variety of techniques. The semiautomatic adjustment permits an easy configuration change in order to measure PXRD samples in transmission (Cu Ka1 and Cu Ka) and reflection. With this system it is possible to analyze layers, GIXRD and reflectometry. SAXS is also available. Finally, the system is equipped with an Anton Paar CHC+ humidity and temperature control chamber for analysing samples under controlled conditions

Rotating Anode Rigaku Single Crystal

Rigaku diffractometer equipped with a Pilatus 200K area detector, a Rigaku MicroMax-007HF microfocus rotating anode with MoKa radiation, Confocal Max Flux optics and an Oxford Cryosystems low temperature device Cryostream 700 plus (T = 90-500 K). Programs available: – CrystalClear-SM Expert 2.1 b29[5] – CrysAlisPro 1.171.39.46[6] [5] Rigaku, 2013. [6] R. O. Diffraction, 2017.

Contactes institucionals / Cap de plataformes

GC

Gisela Colet
Institut Català d'Investigació Química (ICIQ)

Dades provisionals

Dr. Jordi Benet - jbenet@iciq.cat

Tècnic

Dra. Marta Martínez |   mmartinez@iciq.es  | 977 920 200 (ext. 311)

Gerent

Dr. Jordi Benet |   jbenet@iciq.cat  | 977 920 200 (ext. 303)

Dra. Gisela Colet | Coordinador/ a d'Instal·lacions |   gcolet@iciq.cat  | Telèfon: +34 977 920 238

Centres CERCA

Tarragona, Spain

2004

Institut Català d'Investigació Química (ICIQ)

Propietaris

Llista Centres CERCA

Adreces

https://iciq.org/research-unit/x-ray-diffraction-unit/

Equipament i Serveis

Sistema de difracció de raigs X en pols D8 Advance Series 2Theta/Theta que utilitza radiació CuKa en geometria de transmissió. El sistema està equipat amb un PSD de recompte de fotons únic VÅNTEC-1, un monocromador de germani, una etapa de mostreig de desplaçament automàtic de noranta posicions, ranures de divergència fixes i un llindar radial. Programes disponibles: Recollida de dades amb DIFFRAC plus XRD Commander V.2.4.1 i avaluació amb EVA V.12.0. i TOPAS V.6. Ànode rotatiu de monocristall Rigaku: Difractòmetre Rigaku equipat amb un detector d'àrea Pilatus 200K, un ànode microfocus rotatiu Rigaku MicroMax-007HF amb radiació MoK₃, òptica Confocal Max Flux i un dispositiu Oxford Cryosystems Cryostream 700 plus de baixa temperatura (T = 90-500 K). Programes disponibles: – CrystalClear-SM Expert 2.1 b29 – CrysAlisPro 1.171.39.46, Bruker Single Crystal DUO: difractòmetre Bruker Apex DUO equipat amb un goniòmetre Kappa de 4 eixos, un detector d'àrea CCD APPEX 2 4K, una font de microenfocament E025 IuS amb radiació MoKa, una font de microenfocament E025 IuS amb radiació CuKa, Quazar MX Multilayer Optics com a monocromador i un dispositiu Oxford Cryosystems Cryostream 700 plus de baixa temperatura (T = 90-500 K). Programes disponibles: – Recollida de dades amb APEX II versió v2013.4-1. Reducció de dades amb Bruker SAINT versió V8.37A. – Correcció d'absorció amb SADABS v2016-2 i TWINABS v2012 / 1. – Mesures de difracció de raigs X en pols i temperatura variable amb la utilitat en Pilot: XRD 2 Eval (Bruker AXS). Programes generals disponibles / utilitzats per al processament d'estructures, solució i millora: – SHELXT; V2014 / 4 – SIR2014 v17.10 – SHELXle – SHELXL-2018/3 – Crystals – Wingx Versió 2014.1 – Plato – MoPro.05i v1

DIFRACIÓ ELECTRÒNICA DE CRISTALL ÚNIC Estructura dels nanocristalls – Indexació – Mesures de 100 k a 1000 K DIFRACIÓ DE CRISTALL ÚNIC DE RAIGS X Configuració absoluta – Cristal·lització de compostos – Condicions inertes – 100 K a 500 K – Radiació de Cu i Mo DIFRACIÓ DE POLS Rampa d'humitat/temperatura – SAXS-GIXRD – Kα1

Categorització

Dominis RIS3CAT

Dominis RIS3CAT
CERCA GINYS Categories

GINYS-ICIQ-002

Procediment d'accés i tarifes

Obre

https://iciq.org/wp-content/uploads/2025/08/RSA-01-2025_ENG.pdf

Qualitat institucional

HRS4R

Estratègia de Recursos Humans per a Investigadors. Dóna suport a les institucions de recerca i a les organitzacions de finançament en la implementació de la Carta i el Codi en les seves polítiques i pràctiques. La implementació dels principis de la Carta i el Codi per part de les institucions de recerca les fa més atractives per als investigadors que busquen un nou ocupador o amfitrió per al seu projecte de recerca.

Roger Cabezas
Roger CabezasUnitat de TransferènciaI-CERCA

CERCA GINYS Quality

Codi de conducta CERCA

El Codi de conducta CERCA , alineat amb el Codi de conducta europeu per a la integritat de la recerca, reconegut per les institucions europees, ofereix garanties en termes de transparència, accés obert a les dades i els resultats, gestió de la propietat industrial, integritat científica i relació amb els mitjans de comunicació, entre d'altres.

Roger Cabezas
Roger CabezasUnitat de TransferènciaI-CERCA

CERCA GINYS Quality

Política de privacitat
Avís legal