Difracción de electrones

El difractómetro de electrones XtaLAB Synergy-ED facilita una transición fluida desde la recopilación de datos hasta la determinación de estructuras moleculares tridimensionales. Es el resultado de una colaboración innovadora que fusiona nuestras tecnologías fundamentales: el detector de electrones rápido y altamente sensible de Rigaku (HyPix-ED) y una plataforma de software de vanguardia para la gestión de instrumentos y el análisis de monocristales (CrysAlisPro para ED), con la amplia experiencia y liderazgo de JEOL en el diseño y la fabricación de microscopios electrónicos de transmisión. El difractómetro de electrones integrado garantiza un flujo de trabajo ininterrumpido desde la recopilación de datos hasta la interpretación de estructuras moleculares tridimensionales. Este equipo permite examinar muestras nanocristalinas gracias a la capacidad de la difracción de electrones para medir cristales de tan solo cientos de nanómetros o menos. Esta escala es miles de veces menor que la que se puede analizar con un sincrotrón. Este aparato tiene la capacidad de funcionar en un amplio espectro de temperatura, desde 100 K hasta 1000 K. La técnica ofrece numerosas características, incluida la capacidad de realizar cristalización in situ, elucidación de estructura absoluta y difracción de polvo, entre otras.

Bloques de contenido

XtaLAB Synergy-ED 200 KeV

Equiped with a hybrid pyxel detector HyPix-ED

Gatan Cryo-Transfer Holder to -173 K

Gatan Cryo-Transfer Holder to -173 K

JEOL EM-21130

JEOL EM-21130

Contactos Institucionales / Responsable de Plataformas

Contactos temporales

Dr. Jordi Benet - jbenet@iciq.cat

Gerente

Dr. Jordi Benet |   jbenet@iciq.cat  | 977 920 200 (ext. 303)

Técnico

Dra. Marta Martínez |   mmartinez@iciq.es  | 977 920 200 (ext. 311)

Dra. Gisela Colet | Coordinador de Instalaciones |   gcolet@iciq.cat  | Teléfono: +34 977 920 238

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Equipos y Servicios

Difractómetro electrónico XtaLAB Synergy-ED de 200 KeV equipado con un detector híbrido de píxeles HyPix-ED. Soporte de criotransferencia Gatan para horno JEOL EM-21130 de -173 K hasta 800 ºC (1073 K).

Estructura de nanocristales. El dispositivo incorpora un detector extremadamente rápido y un goniómetro de amplio rango, lo que permite la recopilación completa de datos en cuestión de minutos. Indexación. Permite la indexación rápida de nanocristales en segundos. Cristalización in situ. El dispositivo de baja temperatura permite la cristalización in situ de muestras sensibles. Cristalización in situ a partir de disolvente. Mediciones a 100 K. Puede medir a temperaturas de 100 K, lo que mejora la estabilidad y la calidad de la medición. Preparación de muestras a 100 K. El ED está equipado con un criostato externo para preservar muestras inestables. Horno para mediciones de hasta 1000 K. Para análisis especiales, cuenta con un horno interno que alcanza temperaturas de hasta 1000 K. Configuración absoluta. Utilizando esta metodología, es posible determinar la configuración absoluta de compuestos, incluso cuando el tamaño de sus cristales es de apenas cientos de nanómetros.

Categorización

Dominios RIS3CAT y otros

Dominios RIS3CAT

Categorías de CERCA GINYS

GINYS-ICIQ-012

Procedimiento de acceso y tarifas

Abierto