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NCL – Laboratorio de Nano-Caracterización

El Laboratorio de NanoCaracterización ofrece servicios de vanguardia para la caracterización de nanomateriales y nanoestructuras desarrollados en el ICFO, tanto en los diversos grupos como en la planta de nanofabricación (NFL). El equipo único del NCL proporciona múltiples técnicas de caracterización para la obtención de imágenes de materiales optoelectrónicos, estructuras nanofotónicas y sus dispositivos en múltiples escalas de longitud, utilizando fotones, electrones, fuerzas mecánicas y rayos X como sondas.

Bloques de contenido

Images

Electron Microscopy

The facility offers a state-of-art electron microscopy suite with currently 2 SEMs one offering Ultra-high resolution at high and low beam energies for surface sensitive samples.

X-ray diffraction Facility

NCL also has An X-ray diffraction facility for powder and thin film measurements, featuring also X-ray reflection for thin film measurements.

Spectroscopic Ellipsometry

NCL’s spectroscopic ellipsometry covering a very broad spectral range from 300 nm – 20 μm, provides unprecedented information on the optical properties of materials and photonic structures at such a broad range.

Scanning Probe Microscopy

NCL provides several state-of-art scanning probe microscopy systems offering several techniques including AFM, (photo-)conductive AFM, Kelvin-probe AFM, scanning-CAP AFM etc.

Contactos Institucionales / Responsable de Plataformas

PL

Pablo Loza-Alvarez
Institut de Ciències Fotòniques (ICFO)

Contactos temporales

Prof. Dr. Gerasimos Konstantatos | NFL Chair |  gerasimos.konstantatos@icfo.eu  | +34 935534182 |  ORCID 

Operations Manager

Dr. Johann Osmond |  johann.osmond@icfo.eu  | +34 935534030 |  ORCID 

NCL Chair

Prof. Dr. Gerasimos Konstantatos |  gerasimos.konstantatos@icfo.eu  | +34 935534182 |  ORCID 

Dr. Pablo Loza-Alvarez | Coordinador de Instalaciones |   pablo.loza@icfo.eu  | 93 553 4068 - 93 554 2259 |   ORCIDO  |   Página de la República Popular China  

Centros CERCA

Castelldefels, Spain

2022

Institut de Ciències Fotòniques (ICFO)

Propietarios

Lista Centros CERCA

Direcciones

https://www.icfo.eu/research/facilities/ncl/

Equipos y Servicios

Técnicas disponibles Microscopía electrónica: La instalación ofrece una suite de microscopía electrónica de última generación con actualmente 2 SEM, uno que ofrece una resolución ultraalta en energías de haz altas y bajas para muestras sensibles a la superficie. Instalación de difracción de rayos X: NCL también tiene una instalación de difracción de rayos X para mediciones de polvo y película delgada, que también presenta reflexión de rayos X para mediciones de película delgada. Elipsometría espectroscópica: La elipsometría espectroscópica de NCL que cubre un rango espectral muy amplio de 300 nm a 20 μm, proporciona información sin precedentes sobre las propiedades ópticas de los materiales y las estructuras fotónicas en un rango tan amplio. Microscopía de sonda de barrido: NCL proporciona varios sistemas de microscopía de sonda de barrido de última generación que ofrecen varias técnicas que incluyen AFM, AFM (foto)conductivo, AFM de sonda Kelvin, AFM de CAP de barrido, etc.

Categorización

Dominios RIS3CAT y otros

Dominios RIS3CAT

Categorías de CERCA GINYS

GINYS-ICFO-005

Procedimiento de acceso y tarifas

Abierto. Para solicitar acceso, información detallada sobre los equipos disponibles y tarifas, contacte con: gerasimos.konstantatos@icfo.eu; johann.osmond@icfo.eu

https://www.icfo.eu/wp-content/uploads/2023/01/NCL-fees.pdf

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