La instalación de fotoemisión ICN2 alberga un sistema XPS y UPS de última generación que permite la caracterización superficial, química y electrónica de una amplia gama de materiales. La instalación presta servicios tanto a clientes internos como externos de ICN2. XPS y UPS son técnicas sensibles a la superficie, ya que los electrones solo viajan unos pocos nanómetros en el sólido antes de perder energía por interacción inelástica. Esto significa que los electrones analizados provienen de la superficie superior del material. Por eso, en la espectroscopia de fotoemisión, la muestra se coloca en un ultra alto vacío (UHV) para proteger la superficie de la contaminación y permitir que los electrones emitidos por los sólidos lleguen al analizador. XPS , debido a la mayor energía de la fuente de rayos X, permite acceder al nivel del núcleo, lo que permite determinar la estructura química de los materiales, ya que los niveles del núcleo presentan un pequeño desplazamiento químico en función del entorno químico del átomo ionizado. XPS también permite cuantificar los elementos presentes en el material. El UPS , debido a la menor energía de la luz UV, da acceso a los electrones de las bandas de valencia y permite, con resolución angular UPS (ARUPS), observar la distribución de electrones en el espacio recíproco de los sólidos.

Guillaume Sauthier | Research technician at the Photoemission Spectroscopy Facility |  guillaume.sauthier@icn2.cat  | 937 372 638 |  ORCID  

Guillaume Sauthier | Research technician at the Photoemission Spectroscopy Facility |  guillaume.sauthier@icn2.cat  | 937 372 638 |  ORCID  

Gustavo Ceballos | Jefe de la División de Apoyo a la Investigación – Unidad de Instrumentación |   gustavo.ceballos@icn2.cat  |   ORCID