difracción de rayos X

La Unidad de Difracción de Rayos X reúne todas las técnicas basadas en la difracción de rayos X sobre sólidos cristalinos. Apoya la caracterización de compuestos químicos que están disponibles en estado cristalino. Hay dos técnicas principales disponibles: difracción de rayos X en polvo (PXRD) y difracción de rayos X de monocristal (SCXRD). La técnica PXRD se utiliza básicamente como un método de cribado primario y ofrece una huella digital de cada forma cristalina diferente analizada. Este método proporciona un servicio básico a todos los usuarios de ICIQ con un sistema que permite una fácil preparación de muestras y un tiempo de medición corto para un gran número de muestras. La técnica SCXRD ofrece una estructura tridimensional a escala atómica de un compuesto cristalino seleccionado. Este método es altamente especializado con un sistema combinado de componentes de alto rendimiento. El objetivo en este caso es dar apoyo directo a los grupos de investigación mediante la resolución de problemas en todos los niveles de dificultad. Este apoyo incluye la cristalización de muestras problemáticas, la preparación de cristales de baja calidad y el refinamiento de conjuntos de datos preocupantes.

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Imágenes

Powder X-ray diffraction system

D8 Advance Series 2Theta/Theta powder diffraction system using CuKa-radiation in transmission geometry. The system is equipped with a VÅNTEC-1 single photon counting PSD, a Germanium monochromator, a ninety positions auto changer sample stage, fixed divergence slits and a radial soller. Programs available: Data collection with DIFFRAC plus XRD Commander V.2.4.1 and evaluation with EVA V.12.0. and TOPAS V.6

DUO Bruker Single Crystal

Bruker diffractometer Apex DUO equipped with a Kappa 4-axis goniometer, an APPEX 2 4K CCD area detector, a Microfocus Source E025 IuS using Mo Ka radiation, a Microfocus Source E025 IuS using Cu Ka radiation, Quazar MX multilayer Optics as monochromator and an Oxford Cryosystems low temperature device Cryostream 700 plus (T = 90-500 K). Programs available: – Data collection with APEX II version v2013.4-1.[1]– Data reduction with Bruker SAINT version V8.37A.[2] – Absorption correction with SADABS v2016-2[3] and TWINABS v2012/1[4]. – Powder X-ray Diffraction and variable temperature Powder X-ray Diffraction measurements with the utility in Pilot: XRD2Eval (Bruker AXS). -Software for data treatement: – SHELXT; V2014/4[7] – SIR2014 v17.10[8] – SHELXle[9] – SHELXL-2018/3[10] – Crystals[11] – Wingx Version 2014.1[12] – Platon[13] – MoProGui v18.05[14] [1] Bruker-AXS, v2013.4-1 ed., Madison, Wisconsin, USA, 2013. [2] Bruker-AXS, v8.37A ed., Madison, Wisconsin, USA, 2013. [3] L. Krause, R. Herbst-Irmer, G. M. Sheldrick, D. Stalke, J. Appl. Cryst. 2015, 48, 3-10. [4] G. M. Sheldrick, 2012. [7] G. M. Sheldrick, Acta Crystallographica a-Foundation and Advances 2015, 71, 3-8. [8] M. C. Burla, R. Caliandro, B. Carrozzini, G. L. Cascarano, C. Cuocci, C. Giacovazzo, M. Mallamo, A. Mazzone, G. Polidori, J. Appl. Cryst. 2015, 48, 306-309. [9] C. B. Hubschle, G. M. Sheldrick, B. Dittrich, J. Appl. Cryst. 2011, 44, 1281-1284. [10] G. M. Sheldrick, Acta Crystallographica Section C-Structural Chemistry 2015, 71, 3-8. [11] A. L. Thompson, D. J. Watkin, J. Appl. Cryst. 2011, 44, 1017-1022. [12] L. Farrugia, J. Appl. Cryst. 2012, 45, 849-854. [13] A. Spek, Acta Crystallographica Section D 2009, 65, 148-155; A. L. Spek, Acta Crystallographica Section C-Structural Chemistry 2015, 71, 9-18. [14] C. Jelsch, B. Guillot, A. Lagoutte, C. Lecomte, J. Appl. Cryst. 2005, 38, 38-54.

IR LASER

This IR LASER system allows the “in situ” crystallisation of the samples under inert conditions.

Empyrean Power Diffractometer

The versatile Malvern Panalytical Empyrean Diffractometer is a state of the art equipment that allows a variety of techniques. The semiautomatic adjustment permits an easy configuration change in order to measure PXRD samples in transmission (Cu Ka1 and Cu Ka) and reflection. With this system it is possible to analyze layers, GIXRD and reflectometry. SAXS is also available. Finally, the system is equipped with an Anton Paar CHC+ humidity and temperature control chamber for analysing samples under controlled conditions

Rotating Anode Rigaku Single Crystal

Rigaku diffractometer equipped with a Pilatus 200K area detector, a Rigaku MicroMax-007HF microfocus rotating anode with MoKa radiation, Confocal Max Flux optics and an Oxford Cryosystems low temperature device Cryostream 700 plus (T = 90-500 K). Programs available: – CrystalClear-SM Expert 2.1 b29[5] – CrysAlisPro 1.171.39.46[6] [5] Rigaku, 2013. [6] R. O. Diffraction, 2017.

Contactos Institucionales / Responsable de Plataformas

Contactos temporales

Dr. Jordi Benet - jbenet@iciq.cat

Técnico

Dra. Marta Martínez |   mmartinez@iciq.es  | 977 920 200 (ext. 311)

Gerente

Dr. Jordi Benet |   jbenet@iciq.cat  | 977 920 200 (ext. 303)

Dra. Gisela Colet | Coordinador de Instalaciones |   gcolet@iciq.cat  | Teléfono: +34 977 920 238

Centros CERCA

Propietarios

Lista Centros CERCA

Equipos y Servicios

Sistema de difracción de rayos X en polvo 2Theta/Theta Serie D8 Advance que utiliza radiación CuKa en geometría de transmisión. El sistema está equipado con un PSD de conteo de fotones individuales VÅNTEC-1, un monocromador de germanio, una platina de muestreo con desplazamiento automático de noventa posiciones, ranuras de divergencia fijas y un umbral radial. Programas disponibles: Recopilación de datos con DIFFRAC plus XRD Commander V.2.4.1 y evaluación con EVA V.12.0 y TOPAS V.6. Ánodo rotatorio Rigaku de cristal único: Difractómetro Rigaku equipado con un detector de área Pilatus de 200 K, un ánodo rotatorio de microfoco Rigaku MicroMax-007HF con radiación MoK₁, óptica Confocal Max Flux y un dispositivo Oxford Cryostream 700 plus de baja temperatura (T = 90-500 K). Programas disponibles: CrystalClear-SM Expert 2.1 b29, CrysAlisPro 1.171.39.46, Bruker Single Crystal DUO: Difractómetro Bruker Apex DUO equipado con un goniómetro Kappa de 4 ejes, un detector de área CCD APPEX 2 4K, una fuente microfoco E025 IuS con radiación Mo K a, una fuente microfoco E025 IuS con radiación Cu K a, óptica multicapa Quazar MX como monocromador y un dispositivo Oxford Cryosystems Cryostream 700 plus de baja temperatura (T = 90-500 K). Programas disponibles: Recopilación de datos con APEX II versión v2013.4-1. Reducción de datos con Bruker SAINT versión V8.37A. Corrección de la absorción con SADABS v2016-2 y TWINABS v2012/1. Mediciones de difracción de rayos X en polvo y temperatura variable con la utilidad en Pilot: XRD 2 Eval (Bruker AXS). Programas generales disponibles/utilizados para el procesamiento de estructuras, solución y mejora: – SHELXT; V2014/4 – SIR2014 v17.10 – SHELXle – SHELXL-2018/3 – Cristales – Wingx versión 2014.1 – Plato – MoPro.05i v1

DIFRACCIÓN DE ELECTRONES DE MONOCRISTAL Estructura de nanocristales – Indexación – Medidas de 100 k a 1000 K DIFRACCIÓN DE RAYOS X DE MONOCRISTAL Configuración absoluta – Cristalización de compuestos – Condiciones inertes – 100 K a 500 K – Radiación de Cu y Mo DIFRACCIÓN DE POLVO Tasa de rampa de humedad/temperatura – SAXS -GIXRD – Kα1

Categorización

Dominios RIS3CAT y otros

Dominios RIS3CAT
Categorías de CERCA GINYS

GINYS-ICIQ-002

Procedimiento de acceso y tarifas

Abierto