
difracción de rayos X
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Centros CERCA

Tarragona, Spain
2004
Institut Català d'Investigació Química (ICIQ)
Propietarios
ICIQ
Equipos y Servicios
Sistema de difracción de rayos X en polvo 2Theta/Theta Serie D8 Advance que utiliza radiación CuKa en geometría de transmisión. El sistema está equipado con un PSD de conteo de fotones individuales VÅNTEC-1, un monocromador de germanio, una platina de muestreo con desplazamiento automático de noventa posiciones, ranuras de divergencia fijas y un umbral radial. Programas disponibles: Recopilación de datos con DIFFRAC plus XRD Commander V.2.4.1 y evaluación con EVA V.12.0 y TOPAS V.6. Ánodo rotatorio Rigaku de cristal único: Difractómetro Rigaku equipado con un detector de área Pilatus de 200 K, un ánodo rotatorio de microfoco Rigaku MicroMax-007HF con radiación MoK₁, óptica Confocal Max Flux y un dispositivo Oxford Cryostream 700 plus de baja temperatura (T = 90-500 K). Programas disponibles: CrystalClear-SM Expert 2.1 b29, CrysAlisPro 1.171.39.46, Bruker Single Crystal DUO: Difractómetro Bruker Apex DUO equipado con un goniómetro Kappa de 4 ejes, un detector de área CCD APPEX 2 4K, una fuente microfoco E025 IuS con radiación Mo K a, una fuente microfoco E025 IuS con radiación Cu K a, óptica multicapa Quazar MX como monocromador y un dispositivo Oxford Cryosystems Cryostream 700 plus de baja temperatura (T = 90-500 K). Programas disponibles: Recopilación de datos con APEX II versión v2013.4-1. Reducción de datos con Bruker SAINT versión V8.37A. Corrección de la absorción con SADABS v2016-2 y TWINABS v2012/1. Mediciones de difracción de rayos X en polvo y temperatura variable con la utilidad en Pilot: XRD 2 Eval (Bruker AXS). Programas generales disponibles/utilizados para el procesamiento de estructuras, solución y mejora: – SHELXT; V2014/4 – SIR2014 v17.10 – SHELXle – SHELXL-2018/3 – Cristales – Wingx versión 2014.1 – Plato – MoPro.05i v1
DIFRACCIÓN DE ELECTRONES DE MONOCRISTAL Estructura de nanocristales – Indexación – Medidas de 100 k a 1000 K DIFRACCIÓN DE RAYOS X DE MONOCRISTAL Configuración absoluta – Cristalización de compuestos – Condiciones inertes – 100 K a 500 K – Radiación de Cu y Mo DIFRACCIÓN DE POLVO Tasa de rampa de humedad/temperatura – SAXS -GIXRD – Kα1
Categorización
Dominios RIS3CAT y otros
Sistema industrial
Sistema de educación y generación de conocimiento
Sistema de energía y recursos
EQUIPO TECNOLÓGICO
Laboratorio de Materiales
Otros laboratorios especializados
GINYS-ICIQ-002
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